Referência de acordo com a norma APA

GOUVEA, C. D. P. (2017). [en] DUAL BEAM MICROSCOPY AS A MODIFICATION AND CHARACTERIZATION TOOL OF ORGANIC SEMICONDUCTOR THIN FILMS AND FOR DEVICE FABRICATION.

Referência de acordo com a norma Chicago

GOUVEA, CRISTOL DE PAIVA. [en] DUAL BEAM MICROSCOPY AS A MODIFICATION AND CHARACTERIZATION TOOL OF ORGANIC SEMICONDUCTOR THIN FILMS AND FOR DEVICE FABRICATION. 2017.

Referência de acordo com a norma MLA

GOUVEA, CRISTOL DE PAIVA. [en] DUAL BEAM MICROSCOPY AS A MODIFICATION AND CHARACTERIZATION TOOL OF ORGANIC SEMICONDUCTOR THIN FILMS AND FOR DEVICE FABRICATION. 2017.

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