[pt] METROLOGIA, NORMALIZAÇÃO E REGULAÇÃO DE NANOMATERIAIS NO BRASIL: PROPOSIÇÃO DE UM MODELO ANALÍTICO-PROSPECTIVO - ANA RUSMERG GIMÉNEZ LEDESMA (2011)
[pt] O objetivo da dissertação é propor um modelo analítico-prospectivo como ferramenta de apoio a processos decisórios em questões referentes à metrologia, normalização e regulação de nanomateriais no Brasil, baseando-se em referenciais internacionais e iniciativas em curso no mundo. No contexto do desenvolvimento da nanotecnologia no Brasil, a motivação da pesquisa é destacar a importância e os benefícios para o país da metrologia, normalização e regulação de nanomateriais, na perspectiva de aplicação do modelo pelos principais grupos de interesse comprometidos com o desenvolvimento responsável desses novos materiais. A metodologia compreende: (i) pesquisa bibliográfica e documental; (ii) levantamento de iniciativas referentes à metrologia, normalização e regulação de nanotecnologia em nível internacional; (iii) desenvolvimento de um modelo conceitual que integre as três funções – metrologia, normalização e regulação de nanomateriais; e (iv) elaboração do instrumento de pesquisa survey e da ferramenta para a construção de roadmaps estratégicos. Destacam-se como resultados: (i) visão global dos referenciais externos sobre metrologia, normalização e regulação de nanomateriais, em geral, e de nanopartículas, em particular; (ii) o modelo analítico-prospectivo; e (iii) o instrumento de pesquisa survey para a construção de indicadores nacionais e a ferramenta de construção de roadmaps estratégicos das atividades de metrologia, normalização e regulação de nanomateriais no Brasil.