[pt] DESENVOLVIMENTO DE UM PADRÃO DE REFERÊNCIA METROLÓGICA DE FREQÜÊNCIA LASER EM TORNO DE 532 NM - ELIZABETH VILCANAUPA RAYMUNDO (2010)
[pt] Este trabalho faz parte do projeto do desenvolvimento do primeiro padrão de referência metrológica de frequência em torno de 532 nm no Brasil, para a realização prática da definição do metro. A pesquisa foi desenvolvida no Laboratório de Interferometria (Laint) da Divisão de Metrologia Óptica do Inmetro, em convenio com o Programa de Pós-Graduação em Metrologia para Qualidade Industrial da PUC-Rio. No âmbito deste projeto, a realização de uma nova referência em comprimento/freqüência é feita mediante a estabilização de um laser comercial Nd:YAG emitindo uma radiação em torno de 532 nm. A estabilização é realizada numa componente hiperfina de uma transição do iodo molecular (127)I(2), segundo as recomendações do Comitê Internacional de Pesos e Medidas (CIPM- Comité International des Poids et Mesures). O vapor de iodo é contido numa célula externa de absorção resfriada à uma temperatura entre -10 °C e -15 °C. Neste trabalho são apresentadas as seguintes etapas do projeto: Montagem opto-mecânica do sistema e alinhamentos ópticos. Detecção e registro dos sinais de absorção com célula à temperatura ambiente correspondendo às transições do iodo em torno de 532 nm.Caracterização do laser Nd:YAG ou seja determinação da freqüência de emissão laser em função da temperatura TLC do cristal laser, utilizando para este fim um medidor de comprimento de onda (wavemeter). Medições preliminares do sistema de resfriamento e de regulação da temperatura da célula de iodo por meio de um dispositivo termoelétrico Peltier. O controle automático duma temperatura teste de -13°C é realizado via programação LabView.