Magalhães, R. A. (2013). Estudo dos efeitos transitórios da radiação sobre a confiabilidade de transistores SOI.
Referência de acordo com a norma ChicagoMagalhães, Robson Assis. Estudo Dos Efeitos Transitórios Da Radiação Sobre a Confiabilidade De Transistores SOI. 2013.
Referência de acordo com a norma MLAMagalhães, Robson Assis. Estudo Dos Efeitos Transitórios Da Radiação Sobre a Confiabilidade De Transistores SOI. 2013.
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