Costa, F. J. (2018). Estudo do efeito de autoaquecimento em transistores SOI-MOSFET fabricados em tecnologia de camadas ultra finas (UTB e UTBB).
Referência de acordo com a norma ChicagoCosta, F. J. Estudo Do Efeito De Autoaquecimento Em Transistores SOI-MOSFET Fabricados Em Tecnologia De Camadas Ultra Finas (UTB E UTBB). 2018.
Referência de acordo com a norma MLACosta, F. J. Estudo Do Efeito De Autoaquecimento Em Transistores SOI-MOSFET Fabricados Em Tecnologia De Camadas Ultra Finas (UTB E UTBB). 2018.
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