Cruz, W. S. d. (2019). Estudo experimental da influência das radiações ionizantes de raios-x em MOSFETS com estilo de leiaute de porta octogonal com tecnologia de fabricação de CIS CMOS de silício-germânio de 130nm.
Referência de acordo com a norma ChicagoCruz, William Souza da. Estudo Experimental Da Influência Das Radiações Ionizantes De Raios-x Em MOSFETS Com Estilo De Leiaute De Porta Octogonal Com Tecnologia De Fabricação De CIS CMOS De Silício-germânio De 130nm. 2019.
Referência de acordo com a norma MLACruz, William Souza da. Estudo Experimental Da Influência Das Radiações Ionizantes De Raios-x Em MOSFETS Com Estilo De Leiaute De Porta Octogonal Com Tecnologia De Fabricação De CIS CMOS De Silício-germânio De 130nm. 2019.
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