Giroldo Jr, J. (2010). Influência das dimensões geométricas no comportamento da corrente de fuga em dispositivos SOI nMOSFETs de múltiplas portas em altas temperaturas.
Referência de acordo com a norma ChicagoGiroldo Jr, J. Influência Das Dimensões Geométricas No Comportamento Da Corrente De Fuga Em Dispositivos SOI NMOSFETs De Múltiplas Portas Em Altas Temperaturas. 2010.
Referência de acordo com a norma MLAGiroldo Jr, J. Influência Das Dimensões Geométricas No Comportamento Da Corrente De Fuga Em Dispositivos SOI NMOSFETs De Múltiplas Portas Em Altas Temperaturas. 2010.
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